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Primo Simposio Internazionale sui metodi analitici applicati alla filatelia

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spettometro FT IR

Washington, 12-14 novembre 2012: evento primo nel suo genere, il “simposio internazionale sui metodi analitici in filatelia” rappresenta una preziosa opportunità d’incontro tra appassionati e tecnici filatelici per uno scambio costruttivo di idee su esigenze specifiche.

L’evento nasce incarnando la missione dello IAP (Institute for Analytical Philately) ossia la ricerca finalizzata a comprendere le possibili applicazioni delle nuove tecnologie nello studio della filatelia.

Nei circa dieci interventi previsti si parlerà delle modalità con cui l’analisi scientifica è stata applicata a problemi filatelici specifici: sono gradite candidature che, riferendosi alle caratteristiche fisiche dei francobolli (colore, chimica dell’inchiostro, carta, gomma….) ed alla storia postale, propongano un approccio metodologico piuttosto che limitarsi a verifiche su materiale specifico.

L’evento prevede inoltre un’imperdibile mezza giornata di laboratorio condotto con le apparecchiature messe a disposizione dall’NPM (Smithsonian National Postal Museum), quali il “Foster & Freeman VSC 6000”, lo spettometro a flurescenza a raggi x “Bruker Tracer III-SD”, lo spettometro ad infrarossi a trasformata di Fourier “Bruker FT-IR”, per l’indagine su elementi e legami chimici nei campioni esaminati.

I posti sono limitati e possono essere riservati al costo di 95 USD secondo le modalità descritte nel sito dell’ente organizzatore: http://www.analyticalphilately.org/symposiumcall.html.